题名:
公差配合与技术测量   [ 专著] gong cha pei he yu ji shu ce liang / 于凤丽主编 ,
ISBN:
978-7-111-21582-0 价格: CNY18.00
语种:
chi
载体形态:
172页 26cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2007
内容提要:
本书分为绪论,光滑孔、轴尺寸的公差与配合,技术测量基础,形状和位置公差及检测,表面粗糙度,光滑极限量规及典型零件的公差及检测共七章。 
主题词:
公差   配合
主题词:
技术测量   中等专业教育
中图分类法:
TG801 版次: 4
主要责任者:
于凤丽 yu feng li 主编
附注:
中等职业教育“十一五”规划教材 
索书号:
1