题名:
|
公差配合与技术测量 [ 专著] gong cha pei he yu ji shu ce liang / 于凤丽主编 , |
ISBN:
|
978-7-111-21582-0 价格: CNY18.00 |
语种:
|
chi |
载体形态:
|
172页 26cm |
出版发行:
|
出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2007 |
内容提要:
|
本书分为绪论,光滑孔、轴尺寸的公差与配合,技术测量基础,形状和位置公差及检测,表面粗糙度,光滑极限量规及典型零件的公差及检测共七章。 |
主题词:
|
公差 配合 |
主题词:
|
技术测量 中等专业教育 |
中图分类法:
|
TG801 版次: 4 |
主要责任者:
|
于凤丽 yu feng li 主编 |
附注:
|
中等职业教育“十一五”规划教材 |
索书号:
|
1 |